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          產品詳情
          • 產品名稱:國內總代理店推出優等新品OSI王子計測偏光測定裝置

          • 產品型號:KOBRA-HB
          • 產品廠商:OSI王子計測
          • 產品價格:0
          • 折扣價格:0
          • 產品文檔:
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          簡單介紹:
          相位差測定裝置 KOBRA系列 從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。 國內總代理店推出優等新品OSI王子計測偏光測定裝置 KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的*大方向)。 國內總代理店推出優等新品OSI王子計測偏光測定裝置
          詳情介紹:
          相位差測定裝置
          KOBRA系列
          從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。
          KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的方向)。

          1.測量范圍寬···1nm?2· 
          高重復性··±1nm· 
          優異的操作性
          4。實現軟件


          中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

          測量對象: ■延遲膜,Placel,偏光板
          ■光盤
          ■液晶盒
          ■磁帶基膜
          ■收縮膜
          ■其他通用膜
          應用: ■研究和光學功能膜的開發,質量控制
          ■拉伸膜(三維折射率,表面取向)的取向評價
          ■包裝膜的熱收縮,抗撕裂性的評價等
          ■液晶單元,所述波長分散性的評價的扭曲角
          ■光學元件的透射橢圓偏振光的評價
          設備名稱 相位差/橢圓
          測量裝置
          橢圓偏振測量裝置 相位差測量裝置 帶有進樣
          器的相位差測量裝置
          KOBRA-WR KOBRA-WR KOBRA-WR
          設備類型 KOBRA-HB系列  KOBRA-WPR KOBRA-WR KOBRA-WFD




          測量方法

          平行尼科爾旋轉方法
          旋轉偏振器法
          平行尼科爾光譜法

          平行尼科爾旋轉法
          旋轉式偏振片法
          平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法
          測量波長 450,500,550,590,630,680nm 400-800nm 
          (光譜學)
          450,500,550,590,630,750nm
          樣本大小 垂直入射角測定:30mm見方以上
          入射角依存性:30mm?40×50mm,t 3以下
          輪廓測量:
          寬度50mm×長度可選
          入射角依賴性:
          30mm至40 ×50mm ,
          t 3或更小
          測量區域
          33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)
          φ0.8mm(光譜學)
          33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)
          軟件名稱   KOBRA-RE 
          KOBRA-PR 
          KOBRA-TW
          KOBRA-RE KOBRA - DSP / FD 
          KOBRA - RE
          測量項目   面內延遲測量
          入射角依賴
          波長色散特性
          橢圓偏振測量
          扭曲角測量
          測試模式
          面內延遲測量
          入射角依賴
          波長色散特性
          相位剖面
          入射角依賴
          波長色散特性
          設備名稱 用于長樣本的相位差測量裝置
          相位差測量裝置的偏光板
          在線相位差計 在線相位差計
          kobra-wx 100 kobra-wx 100

          KOBRA-311S

          KOBRA-WR
          設備類型 KOBRA-WX *** 系列 KOBRA-WX *** / IR 
          系列
          KOBRA-WI系列  KOBRA-WIS / RT




          測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法
          測量波長 450,550,590,650nm
          850,900,950,1000,1050,1100nm
          590納米
          樣本大小
          取決于樣本階段
           
          測量區域

          33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)

             
          軟件名稱 KOBRA-DSP / X KOBRA-DSP / XIR  
          測量項目 相位差和方位角
          分布
          PVA基材和碘的延遲譜 相位差 相位差,方位角(Rth)

          設備名稱 微區
          相差測量裝置
           相位差分布測量裝置
          微區
          橢圓計
          一般膠片
          在線相位差計
          kobra-wx 100

          設備類型 KOBRA-CCD KOBRA-IMS SAPA  KOBRA-WI / SPC




          測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法 平行尼科爾光譜學
          測量波長
          590納米
             
          樣本大小    
          測量區域        
          軟件名稱    
          測量項目 相位差分布,取向角分布 相位差分布,取向角分布的輪廓

          相位差

          相位差
          中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

          設備名稱 極化方位測量儀
          雙折射測量裝置
          超高相位差測量裝置 便攜式橢圓偏振
          測量裝置
          設備類型 PAM-P 100 PAM-IMS 100 PAM-UHR 100 PAM-PTB 100




          測量方法   平行尼科爾光譜學 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法
          測量波長
          590納米
           
          樣本大小   透明管,纖維,單軸拉伸膜 □40毫米,3毫米或更少
          測量區域      
          天然發光體如面板
          軟件名稱    
          測量項目 偏振方位角,透射率 相位差 相位差,方向角,雙折射 橢圓,橢圓形方位角
          中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

          設備名稱 光軸測量裝置      
               
          設備類型 PAM-PR 300      

          測量方法 旋轉偏振片法
          平行尼科耳旋轉法
          正交尼科耳旋轉法
               
          測量波長
          590nm 
          選項:
          450nm,630nm
           
          樣本大小 □30?250mm 
          20mm厚度以下
             
          測量區域 33 
          平方毫米(5.8平方毫米:光接收器表面)
             
           
          軟件名稱    
          測量項目 偏振軸,方位角,相位差      
          此外,還有專門用于面內相位差測量的KOBRA - WR 0和KOBRA - WPR 0型號,沒有樣品傾角功能。
          此外,KOBRA - WRXY和KOBRA - WPRXY配備了自動XY工作臺(行程200 x 200毫米)在KOBRA - WR和KOBRA - WPR也可用。
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